顯微缺陷膜厚_第(6)頁-上海波銘科學儀器有限公司

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光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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顯微分光膜厚儀是一種高精度的測量儀器

激光修補機用于修復電子元器件和器件表面的損壞

快速化學成像：共聚焦拉曼光譜儀的應用

讓專業(yè)人員為你詳細介紹光纖光譜儀的各個主要功能模塊

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。

更新時間：2025-04-23

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：360
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。

更新時間：2025-04-23

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：331
Load Port對應膜厚測量系統(tǒng) GS-300

●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 ●支持半導體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動校準單元

更新時間：2025-04-23

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：378
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

更新時間：2025-04-23

產(chǎn)品型號：ELSZ-2000系列

瀏覽量：5928
熒光量子效率測試系統(tǒng)

QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。

更新時間：2025-04-23

產(chǎn)品型號：QE-2000

瀏覽量：1895

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